2 402 202 книги
без регистрации
бесплатно
Мобильная версия
Книги
Категории и жанры
Лучшие книги
Добавить книгу
Библиотека
Помощь
Мобильная версия
Плагин
Контакты
Как помочь?
Спонсорам и инвесторам
API
Booksee
.org
Самая большая
электронная библиотека
рунета. Поиск книг и журналов
↓
Только точные совпадения
#1
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (IEEE Press Series on Microelectronic Systems)
Alvin W. Strong
,
Ernest Y. Wu
,
Rolf-Peter Vollertsen
,
Jordi Sune
,
Giuseppe La Rosa
,
Timothy D. Sullivan
,
Stewart E. Rauch III
5.38 Mb